Deze praktische referentie biedt een state-of-the-art overzicht van spikkelmetrologie en de waarde ervan als meettechniek in de industrie. ; Spikkelmetrologie onderzoekt elk belangrijk aspect van het vakgebied Spikkelmetrologie: onderzoekt de oorsprong van spikkelverplaatsing en decorrelatie; presenteert procedures voor vervormingsanalyse en vormmeting van ruwe objecten; geeft uitleg over deeltjesbeeldvelocimetrie (PIV), de verwerking van PIV-records en de ontwerpvereisten van PIV-apparatuur; bespreekt de toepassingen van witlichtspikkelmethoden en de productie van kunstmatige spikkels; beschrijft het meten van oppervlakteruwheid met laserspikkels en polychromatische spikkels; illustreert halfautomatische en automatische methoden voor de analyse van Young's fringes; berekent de variatie van Young's franjes met de verandering in het microreliëf van het ruwe oppervlak; en expliciteert hololenzen voor beeldvorming en biedt ontwerpdetails met aberratiecorrecties voor hololense systemen. ; Met meer dan 1500 literatuurcitaten, tabellen, figuren en weergavevergelijkingen is Speckle Metrology een hulpmiddel voor studenten en professionals op het gebied van optische, mechanische, elektrische en elektronische engineering; toegepaste natuurkunde; en stressanalyse. Taal: Engels