De studie en toepassing van elektronische materialen heeft geleid tot een toenemende vraag naar geavanceerde en betrouwbare technieken voor het onderzoeken en karakteriseren van deze materialen. Dit uitgebreide boek gaat in op het gebied van röntgendiffractie en de moderne technieken die beschikbaar zijn voor gebruik in onderzoek, ontwikkeling en productie. Het biedt de theoretische en praktische achtergrond voor het toepassen van deze technieken bij de wetenschappelijke en industriële karakterisering van materialen. Het hoofddoel van het boek is het in kaart brengen van de theoretische en praktische achtergrond die nodig is voor de studie van enkelkristalmaterialen door middel van hoge-resolutie röntgendiffractie en topografie. Het combineert wiskundige formalismen met grafische uitleg en hands-on praktisch advies voor het interpreteren van gegevens. Taal: Engels