Data Mining and Diagnosing IC Fails

€ 159,00
+ € 5,99 Verzending

Data Mining and Diagnosing IC Fails

  • Merk: Unbranded
Verkocht door:

Data Mining and Diagnosing IC Fails

  • Merk: Unbranded

€ 159,00

Op voorraad
+ € 5,99 Verzending

14-dagen retourbeleid

Verkocht door:

€ 159,00

Op voorraad
+ € 5,99 Verzending

14-dagen retourbeleid

Betaalmethoden:

Beschrijving

Data Mining and Diagnosing IC Fails

Introduction. - Statistics. - Yield Statistics. - Area Dependence of the Yield. - Statistics of Embedded Object Fails. - Fail Commonalities. - Spatial Patterns. - Test Coverage and Test Fallout. - Logic Diagnosis. - Slat Based Diagnosis. - Data Collection Requirements. - Appendix A. Distribution of IC Fails. - Appendix B. General Yield Model. - Appendix C. Simplified Center-Satellite Model. - Appendix D. Quadrat Analysis. - Appendix E. Cell Fail Probabilities. - Appendix F. Characterization Group. - Appendix G. Component Fail Probabilities. - Appendix H. Yield and Coverage. - Appendix I. Estimating First Fail Probabilities from the Fallout. - Appendix J. Identity of M and S. - References. - Index. . Language: English
  • Merk: Unbranded
  • Categorie: Onderwijs
  • Artiest: Leendert M. Huisman
  • Uitgever / Label: Springer
  • Formaat: Paperback
  • Aantal pagina's: 250
  • Verschijningsdatum: 2010/12/08
  • Taal: English
  • Fruugo-ID: 337842478-741501092
  • ISBN: 9781441937674

Levering & retouren

Verzonden binnen6 dagen

  • STANDARD: € 5,99 - Levering tussen ma 19 januari 2026–di 20 januari 2026

Verzending vanaf Verenigd Koninkrijk.

We doen ons best om ervoor te zorgen dat de producten die u bestelt volledig en volgens uw specificaties bij u worden afgeleverd. Mocht u echter een onvolledige bestelling ontvangen of andere artikelen dan degene die u heeft besteld, of als er een andere reden is waarom u niet tevreden bent met de bestelling, dan kunt u de bestelling retourneren, of welk product dan ook die bij de bestelling was inbegrepen, en ontvangt u een volledige terugbetaling voor de artikelen. Bekijk het volledige retourbeleid